Год рождения
1951
Ученая степень
Доктор химических наук
Область наук
Профессор первого класса неорганической химии и материаловедения Université du Littoral Côte d’Opale (Франция)
Евгением Бычковым был обнаружен многообещающий для нелинейной фотоники эффект собственного квадратичного нелинейного отклика для новых гибридных молекулярных стекол.
Индекс Хирша:
Область научных интересов:
- синтез, изучение свойств и модификация объемных халькогенидных стекол и тонких пленок;
- структурные исследования стекол и тонких пленок прямыми методами: (1) нейтронная дифракция, включая изотопное замещение, при использовании реактора и/или импульсного нейтронного источника, (2) высокоэнергетическая рентгеновская дифракция (80-115 кэВ) на источниках синхротронного излучения третьего поколения, (3) рентгеновская спектроскопия EXAFS и XANES, (4) малоугловое нейтронное или рентгеновское рассеивание, включая аномальное рассеивание, а также спектроскопические методы: (5) мёссбауэровская спектроскопия с использованием резонансов на 57Fe, 119Sn, 121Sb, 125Te и 129I, и (6) рамановская спектроскопия;
- компьютерное моделирование структурных и транспортных свойств с использованием функционала плотности DFT, молекулярной динамики из первых принципов FPMD и эмпирических методов: RMC и EPSR;
- исследования соотношений между оптическими свойствами халькогенидных и оксидных стекол и их структурными изменениями на микроскопическом (1 – 10 Å) и мезоскопическом (10 – 1 000 Å) уровне, при воздействии фемтосекундного лазерного излучения;
- новые стеклообразные материалы для нелинейной оптики;
- исследования транспортных явлений, используя измерения ионной и электронной проводимости, радиоизотопную диффузию и квазиупругое нейтронное рассеивание;
- разработка современных химических сенсоров на основе новых халькогенидных и оксидных стекол для обнаружения ионов тяжелых металлов, токсичных анионов и окислительно-восстановительных процессов в растворе;
- исследования электрохимического поведения сенсоров и их сенсорных механизмов с помощью методов спектроскопии поверхности (XPS, AES, SIMS, SNMS, RBS) и радиоизотопов;
- аналитические применения разработанных сенсоров в промышленности (непрерывный контроль технологических процессов) и для экологического мониторинга - моделирование выбросов загрязняющих веществ (тяжелые металлы, NOx) в производственных процессах с целью их значительного сокращения.
|
Лаборатория, принимающая организация
|
Область наук
|
Город
|
Приглашенный ученый
|
Период реализации проекта
|
|---|---|---|---|---|
|
Лаборатория теории рынков и пространственной экономики
Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» - (ВШЭ) |
Экономика и бизнес |
Москва, Санкт-Петербург |
Тисс Жак-Франсуа
Бельгия |
2011-2015 |
|
Лаборатория исследования социальных отношений и многообразия общества
Российская экономическая школа - (РЭШ) |
Экономика и бизнес |
Москва |
Вебер Шломо
США, Израиль |
2013-2017 |
|
Международная научно-образовательная лаборатория технологий улучшения благополучия пожилых людей
Томский политехнический университет - (ТПУ) |
Экономика и бизнес |
Томск |
Касати Фабио
Италия, США |
2014-2018 |